SNJ54BCT8373AFK 专业逻辑_电子元器件_集成电路IC_半导体元器件_设备采购_深圳富潮科技

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SNJ54BCT8373AFK

Texas Instruments

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

管子

SNJ54BCT8373AFK

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SNJ54BCT8373AFK

专业逻辑

Texas Instruments

SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

管子

产品参数

PDF(1)

类型	描述
制造商	Texas Instruments
系列	54BCT
包裹	管子
产品状态	ACTIVE
包装/箱	28-CLCC
安装类型	Surface Mount
位数	8
逻辑类型	Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度	-55°C ~ 125°C
电源电压	4.5V ~ 5.5V
供应商设备包	28-LCCC (11.43x11.43)